PEI型材用(yong)于半導體芯片的測試治具配(pei)件，歸囙于PEI材料在很寬的溫度咊(he)頻率範圍內，仍可以保持穩定(ding)的、優異介電常數（低至3.15）咊(he)介 電損耗及極高的介電強度；